金東霖X射線菲希爾膜厚儀俗稱鍍層測厚儀，膜厚測試儀，X-RAY膜厚儀等等） 用途：檢測金屬鍍層膜厚厚度的儀器，保證鍍層厚度品質(zhì)，減少電鍍成本浪費(fèi) 應(yīng)用范圍較廣的標(biāo)準(zhǔn)型鍍層厚度測量儀 產(chǎn)品型號：XDLM、XUL、XULM、XAN XDVM 技術(shù)參數(shù)：儀器的特長：廣泛應(yīng)用型可測元素：Ti～U X射線管：小型空氣冷卻型高功率X射線管球（W靶）管電壓：45kV 管電流：1mA Be窗濾波器：一次濾波器：A1-自動切換二次濾波器：Co-自動切換檢測器：比例計(jì)數(shù)管 樣品觀察：CCD攝像機(jī) 對焦方式：激光自動對焦 測定軟件：世界上zui的FP法。數(shù)學(xué)計(jì)算測量方法， 安全機(jī)能：測量室門自鎖功能 Z軸防沖撞功能 儀器自診斷功能 儀器介紹： 測量數(shù)據(jù)與Word和Excel鏈接自動生成報(bào)告和數(shù)據(jù)處理  產(chǎn)品特點(diǎn)： ★ 能夠測量無鉛焊錫 配備了薄膜FP法，可以同時(shí)測量Sn-Ag，Sn-Bi，Sn-Cu等，無鉛焊錫的鍍層后與成份 ★ 搭載中心搜索軟件 通過掃描樣品可以自動檢測出線及基板點(diǎn)面部分的測量中心位置。 ★ 擁有防沖功能 ★ 搭載激光對焦系統(tǒng) ★ 搭載測試報(bào)告自動生成軟件 ★ 擁有自動測量軟件以及中心搜索軟件 ★ 搭載了薄膜FP法軟件
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